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IF-12-01000ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200





ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200
产品简介
product
产品分类| 品牌 | 筱晓光子 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 其他 | 应用领域 | 电子/电池,电气,综合 |
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)(光纤研磨抛光/切割剥离器)
ProView XD是一款高度先进的干涉仪,用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的,在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下,干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度,ProView XD包括高度先进的全自动功能,用于端面表面的2D和3D地形分析。该软件自动指示端面的角度、平面度和坡度方向。为了进一步简化检查过程,ProView XD可以设置为“通过/未通过"模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了劈裂角检查外,ProView XD还可用于测量其他一些特性,如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于光纤支架的产品配有通用v形槽夹具组件,该组件可容纳FITEL或藤仓的标准光纤支架,但也允许使用裸光纤。还有可选的支架可用于检查标准SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器。可根据要求提供定制夹具或适配器。ProView XD设计紧凑,是生产台的理想选择,可与熔接机、切割机和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并通电,由外部PC(不包括在内)托管。
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)(光纤研磨抛光/切割剥离器)







