热门搜索：
P760/01_2760nm单模垂直腔面发射激光器
VCSEL-20-M激光控制驱动器
ZNSP25.4-1IR抛光硫化锌(ZnS)多光谱(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶体/棱镜
CO2激光光谱分析仪
Frequad-W-CW DUV 单频连续激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混频器（信号解调/锁相放大器等）
ER40-6/125截止波长1300nm 高掺杂EDF掺铒光纤
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化锌）太赫兹晶体
SNA-4-FC-UPC日本精工法兰FC/UPC（连接器/光纤束/光缆）
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光电二极管 400-1100nm
IRV2000-1X1倍红外观察镜 350-2000nm,分辨率 60lp/mm
NANOFIBER-400-9-SA干涉型单模微纳光纤传感器 1270-2000nm
1030nm超短脉冲种子激光器PS-PSL-1030
高能激光光谱光束组合的光栅 （色散匀化片）
FLEX-BF裸光纤研磨机
S+C+L波段 160nm可调谐带通滤波器
当前位置：首页
产品中心光纤/光纤器件/光纤处理光纤研磨抛光/切割剥离器IF-12-01001ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200u
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200u
产品简介
product
产品分类| 品牌 | 筱晓光子 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 其他 | 应用领域 | 电子/电池,电气,综合 |
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器）
ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过"模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于连接器，提供预装支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器支架。还有一个可选的通用v形槽夹具组件可用于检查裸光纤。可根据需要提供定制的支架或夹具。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与切割机、抛光台、超声波清洁器和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并供电，由外部PC（不包括在内）托管。
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器）
上一个：
返回列表
