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产品中心光纤/光纤器件/光纤处理光纤研磨抛光/切割剥离器IF-12-01001ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200u
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200u
产品简介
product
产品分类| 品牌 | 筱晓光子 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 组件类别 | 其他 | 应用领域 | 电子/电池,电气,综合 |
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器）
ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过"模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于连接器，提供预装支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器支架。还有一个可选的通用v形槽夹具组件可用于检查裸光纤。可根据需要提供定制的支架或夹具。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与切割机、抛光台、超声波清洁器和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并供电，由外部PC（不包括在内）托管。
ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器）
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