• Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932)

    Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932) 产品总览 这款柔性冷却相机支持多种索尼CCD传感器,满足了大多数科学原始设备制造商和显微镜用户的需求。

    更新时间:2024-12-09
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    浏览量:1709
  • FS70L4 用于半导体检测显微镜(显微OCT扫频测振)

    FS70L4 用于半导体检测显微镜(显微OCT扫频测振) 特点 采用Mitutoyo远场校正镜头 三端输出设计可轻松接收视频 转盘可接最多四个物镜

    更新时间:2024-12-09
    产品型号:
    浏览量:1720
  • FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) (观察

    FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) (观察镜) 特点 采用Mitutoyo远场校正镜头 三端输出设计可轻松接收视频 转盘可接最多四个物镜

    更新时间:2024-12-09
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  • BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm

    BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm 产品总览 ½“ CMOS 光束分析照相机,超高速USB 3.0,支持190-1605nm,通用型和高像素型可选,采用标准的无边缘式无窗探测器结构,采用电子快门,最短曝光时间可达40 µs。BladeCam2-HR系列配备功能齐全且可定制的软件,软件可免费更新,许可证无需付费,并提供无限制的软件安装。

    更新时间:2024-12-09
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  • FS70L4-TH 用于半导体检测显微镜 (1x管镜头 C-mount带开关)  (观察镜)

    FS70L4-TH 用于半导体检测显微镜 (1x管镜头 C-mount带开关) (观察镜) 应用: 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。

    更新时间:2024-12-09
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