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INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件) 产品总览 INT05-N Ø0.50” NIR 单片迈克尔逊干涉仪 NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件，12.7 毫米孔径。 操作范围 2940-7700 cm -1。 不含吸湿性材料。
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm) 产品描述： 筱晓光子的红外光束质量分析仪，可以实现1.2-15μm范围内的光斑探测和参数分析，空间分析精度可达10μm量级，具有超感光范围、超大靶面、超高分辨率、多功能软件等特点。
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm) 产品描述： 筱晓光子的红外光束质量分析仪，可以实现1.2-15μm范围内的光斑探测和参数分析，空间分析精度可达10μm量级，具有超感光范围、超大靶面、超高分辨率、多功能软件等特点。
BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪） 应用： 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 • 可用于红外光学系统*。
CUBE-ER100偏振消光比测试仪 总览 CUBE-ER100是一款基于旋转偏振器的偏振消光比（PER）测量仪，适用于光纤和自由空间光学应用。由于其紧凑的尺寸和高达每秒50点的快速测量速度，它可以很容易地集成到保偏光纤自动对准系统中。
FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) （观察仪） 应用： 切割、修整、校正、 给半导体电路做标记 薄膜(绝缘膜) 清洁与加工、液晶彩色滤光器的修复(校正错误)。 还可用作光学观察剖面图以便探针分析半导体故障。 • 可用于红外光学系统*。
BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
