• 近红外光谱仪(900-2200nm 信噪比2788:1)

    近红外光谱仪(900-2200nm 信噪比2788:1) 该系列光谱仪专为高性能光谱分析而设计,提供优秀的精度和可靠性。NR 光谱仪专为在复杂弱光环境下表现出色而设计,其光学分辨率高达 2.85 nm FWHM,可实现精细的峰值鉴别。

    更新时间:2026-01-07
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    浏览量:2798
  • 极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT

    极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT扫频测振) 产品总览 三维无损成像技术在材料科学和医学等许多应用领域都非常重要。我们开发了一种成像技术,利用极紫外和软x射线辐射来获得纳米分辨率的横截面图像。 例如,我们能够无损地研究硅片或生物样品中的近表面结构。

    更新时间:2024-12-08
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  • 可见光 空间分辨率光谱仪 380-780nm

    可见光 空间分辨率光谱仪 380-780nm 产品总览 空间分辨率光谱仪SRS1-vis(可见光型)

    更新时间:2024-12-08
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  • 软磁层评价系统 BH-618HS-P20(显微OCT扫频测振)

    软磁层评价系统 BH-618HS-P20(显微OCT扫频测振) 软磁层的非接触式评估系统,例如具有映射和倾斜角测量功能的硬盘介质中的 SUL。

    更新时间:2026-08-05
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  • 垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC(磁光克尔)(显微OCT扫频测振)

    垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC(磁光克尔)(显微OCT扫频测振) 具有映射评估功能的硬盘垂直记录介质(PMR)非接触评估系统。

    更新时间:2026-08-05
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