咨询热线

13061644116

当前位置:首页  >  产品展示  >  光学测量仪器  >  

  • 热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统
    热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统

    更新时间:2023-07-03型号:访问量:358
    查看详情
  • 1um高分辨率光束质量分析仪 350-1310nm
    1um高分辨率光束质量分析仪 350-1310nm

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 1um高分辨率光束质量分析仪 350-1310nm

    更新时间:2023-07-03型号:访问量:378
    查看详情
  • 用于宽带深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光仪(偏振仪)
    用于宽带深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光仪(偏振仪)

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务$n用于宽带深紫外 (DUV) 和 EUV / XUV 光的旋光仪(偏振仪)

    更新时间:2023-09-21型号:访问量:464
    查看详情
  • 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm
    高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 高速波前传感器 400-800nm 光束直径2.0-4.6mm

    更新时间:2023-07-03型号:访问量:369
    查看详情
  • XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm
    XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 XUV/EUV 宽带软X射线高分辨率光谱仪 2-100nm

    更新时间:2023-07-03型号:访问量:382
    查看详情
  • SPECT-100 可见光近红外光谱相机(光谱成像单元) 380-780/600-1100/950-
    SPECT-100 可见光近红外光谱相机(光谱成像单元) 380-780/600-1100/950-

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 SPECT-100 可见光近红外光谱相机(光谱成像单元) 380-780/600-1100/950-1700nm

    更新时间:2023-06-30型号:访问量:378
    查看详情
  • 红外探测卡IR5
    红外探测卡IR5

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 红外探测卡IR5

    更新时间:2023-06-30型号:访问量:398
    查看详情
  • 极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像)
    极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像)

    筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,建有先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务 极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像)

    更新时间:2023-06-30型号:访问量:422
    查看详情
共 278 条记录,当前 8 / 35 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页