咨询热线

15618042390

当前位置:首页  >  产品展示  >  光学测量仪器  >  光束/光斑质量分析仪  >  WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪

WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪

简要描述:筱晓(上海)光子技术有限公司,MCT探测器,半导体激光二极管,中红外QCL激光器,光纤放大器,光电探测器
CSI(碘化铯)光学窗片 15x 1.5mm

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-11-29
  • 访  问  量:113

详细介绍

品牌其他品牌价格区间面议
组成要素半导体激光器产品及设备产地类别进口
应用领域化工,建材,电子
总览

WinCamD UHR / XHR非常适合任何激光束轮廓分析应用。像素尺寸低至3.2μm,适合于光束。UCD系列都具有全局域快门,使其成为脉冲激光束轮廓分析的佳选择。 软件功能齐全,可高度定制,且不收取许可费用,无限制安装和免费软件更新。它非常适合以下应用:CW和脉冲激光轮廓分析;激光系统的现场服务;光学组件;仪器对准;光束漂移和记录;研发; OEM集成;质量控制和可用M2DU平台进行M2测量。

WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪, WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪
通用参数

特点

355-1150 nm(标准),335-1350nm,

1480-1605nm(UHR),190-1150nm(XHR)

S-WCD-UHR :1280 x 1024,6.6 x 5.3 mm, 5.2 µm

S-WCD-XHR :2048 x 1536, 6.5 x 4.9 mm,3.2 µm

USB 2.0接口;

25,000:1电子自动快门,40 µs至1000 ms

1,000:1 SNR(30/60 dB光学/电气)

M²选项–光束传播分析,发散,聚焦



应用

CW 激光轮廓

激光器和基于激光器的系统的现场服务

光学组件和仪器对准

使用可用的M2DU平台进行M²测量



参数

型号

S-WCD-UHR

S-WCD-XHR

波长

Standard camera: 355 to 1150 nm
1350 nm capable: 355 to 1350 nm (includes long pass filter)
NIR capable: 1480 to 1605 nm

Standard camera: 355 to 1150 nm
1350 nm capable: 355 to 1350 nm (includes long pass filter)
UV capable: 190 to 1150 nm

分辨率

1.3 Mpixel‚ 1280 x 1024

3.1 Mpixel‚ 2048 x 1536

探测面积

6.6 x 5.3 mm

6.5 x 4.9 mm

像元尺寸

5.2 x 5.2 µm

3.2 x 3.2 µm

最小光斑

~52 µm

~32 µm

快门

Rolling

Rolling

最大帧速

~10 Hz

~10 Hz

信噪比

1‚000:1

1‚000:1

电子快门

113dB (2.10¹¹:1)

113dB (2.10¹¹:1)

曝光时间

40 µs to 1 s

40 µs to 1 s

ADC

10-bit (1‚024 levels)

10-bit (1‚024 levels)

可测光源

连续,可配置软件的自动触发、同步和可变延迟

连续,可配置软件的自动触发、同步和可变延迟

接口

USB 2.0/3.0 port

USB 2.0/3.0 port

尺寸

67 x 61 x 29 mm

67 x 61 x 29 mm

滤波片到探测面的距离

9.4 mm

9.4 mm

重量

155 g

155 g



尺寸图:


 


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7