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  • BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 ( 350-1310nm)

    BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 ( 350-1310nm) 产品总览 BeamOn 是光束诊断测量系统,用于实时测量连续或脉冲激光光束,可测量激光光束参数,包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能,用于光束分析设置和给出结果。

    更新时间:2025-01-16
    产品型号:
    浏览量:2029
  • 400-1700nm 量子点短波红外相机型光束质量分析仪

    400-1700nm 量子点短波红外相机型光束质量分析仪 量子点短波红外相机型光束质量分析仪,超高速USB 3.0,400-2000nm,采用量子点传感器,对1550nm或2000nm处进行优化,多种有效面积可供选择,z高可至1920 x 1080,15×15 μm像素点,14位A/D转换,是连续和脉冲短波红外激光光束分析的理想工具。

    更新时间:2026-05-08
    产品型号:
    浏览量:2367
  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基础型光斑分析仪相机 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基础型光斑分析仪相机 1480-1605nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²

    更新时间:2024-12-08
    产品型号:
    浏览量:1556
  • BladeCam2-HR-1310CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1350nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²

    更新时间:2024-12-08
    产品型号:BladeCam2-HR-1310
    浏览量:1819
  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产品应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²

    更新时间:2024-12-08
    产品型号:BeamOn U3-E
    浏览量:1759
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