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  • BeamOn U3-VIS NIR光束质量分析仪 350-1600nm

    BeamOn U3-VIS NIR光束质量分析仪 350-1600nm 产品总览 U3光束质量分析仪是一种光束测量系统,用于实时测量单束或多束的位置、功率和轮廓。该系统是用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它提供了激光光束参数的广泛的图形表示和分析能力,如:光束宽度、形状、位置、功率和强度轮廓。BeamOn是一个USB3.0设备级的软件驱动设备,驻留在用户提供的主机中。

    更新时间:2024-12-04
    产品型号:
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  • DUMA M2 Beam On U3 光束质量分析仪 350-1350nm

    DUMA M2 Beam On U3 光束质量分析仪 350-1350nm 产品总览 Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力,从紫外波段到波长超过1.6um。

    更新时间:2025-01-17
    产品型号:
    浏览量:1741
  • BA7-IR3E-USBDUMA BeamAnalyzer 刀口型光斑分析仪 1050-2700nm 最小探测功率10

    DUMA BeamAnalyzer 刀口型光斑分析仪 1050-2700nm 最小探测功率10µW DUMA公司的刀口型(Knife edge)BeamAnalyzer光斑分析仪采用了优良的技术上认可技术,Shou先在不同的角度都有刀刃轮廓,其次在不同的断层重建光强分布以得到激光整体空间强度分布图,是对连续激光器、光纤和激光二极管生成高分辨率波束宽度和轮廓的测量,以2D和3D视图形式显示光束能量分

    更新时间:2025-01-20
    产品型号:BA7-IR3E-USB
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  • BA7-Si-USB-SAM3-HP-B高功率光束质量分析仪 350-1100nm

    高功率光束质量分析仪 350-1100nm 产品总览 特点: 内置风冷采样器 业内领xian的刀口系统 图像层析重建算法 可测15微米到9毫米大小的光斑 可精确测量光斑轮廓、功率和位置

    更新时间:2025-01-16
    产品型号:BA7-Si-USB-SAM3-HP-B
    浏览量:1710
  • 超高功率光束质量分析仪

    超高功率光束质量分析仪 采用快速移动的线性采样器对激光光束进行测量,通过极短曝光时间与风冷系统有效降低热负荷。采用窗式光束采样器,通过嵌入式狭缝结构消除内部反射,不干扰主光路的条件下提取低功率样本。适用于宽波长范围的连续激光,可同步测量光束轮廓与发散角。

    更新时间:2026-03-30
    产品型号:
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