Cila 2.0 裸光纤抛光和检测系统 （光纤研磨抛光） Bare Fiber Polishing and Inspection, Cila 2.0裸光纤抛光和检测系统可以有效地获取、对齐、定位和抛光大量形状奇特的裸光纤。内置检测系统，提供高分辨率成像和参考，使其在对公差要求高的应用方面有突出表现，如在抛光角度、径向对准(PM光纤)和精确光纤突出长度等方面。

光学波导抛光和检测系统（光纤研磨抛光） Optical Waveguide Polishing and Inspection Cila 2.0光学波导，光纤阵列V型槽抛光和检测系统可以抛光和检测多种类型的光波导、多光纤阵列V型槽，以及需要共面、平面、倾斜或多面端面的类似组件。该系统配备了一个剖面图，高分辨率摄像机，允许用户监控抛光过程，进行余量去除和角度验证。具有精确定位能力的明视场

ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器） ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。

ProView™ LD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径125-720um)（光纤研磨抛光/切割剥离器） ProView LD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为125至720µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView LD也非常适合研发环境和连接器维护目的。

ProView™ XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)（光纤研磨抛光/切割剥离器） ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µm的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。