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IR抛光硫化锌(ZnS)多光谱(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X3.0mm（晶体/棱镜
2x4 QPSK C波段相干混频器（信号解调/锁相放大器等）
截止波长1300nm 高掺杂EDF掺铒光纤
Frequad-W-CW DUV 单频连续激光器 213nm 10mW Frequad-W
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光电二极管 400-1100nm
日本精工法兰FC/UPC（连接线）
CO2激光光谱分析仪
WISTSense Point 紧凑型高精度光纤传感器解调仪（信号解调/锁相放大器等）
超高功率光束质量分析仪
1030nm超短脉冲种子激光器PS-PSL-1030
350-2000nm 1倍红外观察镜
干涉型单模微纳光纤传感器 1270-2000nm
高能激光光谱光束组合的光栅 （色散匀化片）
S+C+L波段 160nm可调谐带通滤波器
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EVOS M5000 成像系统（显微OCT扫频测振/磁光克） EVOS M5000 成像系统是一款数字倒置显微镜，适用于四色荧光、透射光和彩色成像。
更新时间：2025-09-26
产品型号：EVOS M5000.
浏览量：2211
多光子显微镜（OCT扫频测振） 具备深层穿透能力且高灵敏度的体内成像显微镜 产品特点 广角采集功能，可在散射样本深处实现更高的信噪比 模块化选项，支持光遗传学、高速扫描及荧光寿命升级 实时应用界面，便于访问数据并配置自动化反馈实验
更新时间：2025-11-10产品型号：浏览量：1594
扫描开尔文探针(分辨率20um)|材料表面分析（显微OCT）） 扫描开尔文探头可以测量 CPD（接触电位差）值，评估半导体和导电材料的功函数。测量不仅可以在样品表面的单点进行，还可以对整个表面进行扫描。 功函数测量在半导体物理学中te别有用，因为它提供了被测材料费米级的位置。
更新时间：2025-11-11产品型号：浏览量：1825
FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光) 特点 采用Mitutoyo远场校正镜头 三端输出设计可轻松接收视频 转盘可接最多四个物镜
更新时间：2024-12-05产品型号：FS70L4-TH浏览量：1826
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