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产品分类
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振） 特点 采用Mitutoyo远场校正镜头 三端输出设计可轻松接收视频 转盘可接最多四个物镜
更新时间：2024-12-09
产品型号：
浏览量：1171
基于激光GHz声波振动观测系统 500MHz～6GHz（显微OCT扫频测振/磁光克） 基于激光的观测系统，专门设计用于显示基于电介质/压电的高频设备的表面声波 surface acoustic wave（SAW）和体声波 Bulk Acoustic Wave（BAW），如SAW滤波器（Interdigital Transducer 叉指换能器 IDT）和薄膜体声波谐振器（FBAR）
更新时间：2025-02-25产品型号：MLD-101浏览量：1712
用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK（显微OCT扫频测振/磁光克） 用于8英寸或12英寸晶圆的硬盘磁头和磁传感器目标映射测量的非接触式评估系统。
更新时间：2025-02-25产品型号：BH-618SK-浏览量：1547
用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25（显微OCT扫频测振/磁光克） 用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。
更新时间：2025-02-25产品型号：BH-810CPC25-浏览量：1613
垂直磁各向异性评价系统 BH-R810( 显微镜/测振/磁光克尔) 产品总览 在固定磁场方向下具有旋转样品架的角度依赖性分析系统。
更新时间：2025-02-25产品型号：浏览量：1500
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