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产品分类热辅助磁记录介质的非接触HAM/RTAMR评估系统( 显微镜/测振/磁光克尔) 产品总览 产生磁场±6.5T的热(Thermal)辅助磁记录介质(HAMR或TAMR)非接触评估系统。
极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) (显微OCT扫频测振) 产品总览 三维无损成像技术在材料科学和医学等许多应用领域都非常重要。我们开发了一种成像技术,利用极紫外和软x射线辐射来获得纳米分辨率的横截面图像。 例如,我们能够无损地研究硅片或生物样品中的近表面结构。
软磁层评价系统 BH-618HS-P20( 显微镜/测振/磁光克尔) 产品总览 软磁层的非接触式评估系统,例如具有映射和倾斜角测量功能的硬盘介质中的 SUL。
垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC( 显微镜/测振/磁光克尔) 产品总览 具有映射评估功能的硬盘垂直记录介质(PMR)非接触评估系统。
克尔环路测量和域观测系统 BH-1071(显微OCT扫频测振/磁光克) 用于动态(实时)磁畴观测和显微克尔环测量的组合系统。